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带约束的末制导律与伪谱法轨迹优化

带约束的末制导律与伪谱法轨迹优化

定  价:59 元

        

  • 作者:王丽英,张友安,黄诘著
  • 出版时间:2015/3/1
  • ISBN:9787118099416
  • 出 版 社:国防工业出版社
  • 中图法分类:V448 
  • 页码:190
  • 纸张:胶纸板
  • 版次:1
  • 开本:16K
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《带约束的末制导律与伪谱法轨迹优化》主要讲述了带落角和末端攻角约束的最优末制导律;带落角约束针对静止目标的一般加权最优末制导律;终端多约束条件下针对静止目标的剩余时间末制导律;多约束条件下针对运动目标的偏置比例导引律;轨迹优化的数学模型和多区间伪谱法的基本原理;自适应Radau伪谱轨迹优化算法;基于自适应伪谱法的再入轨迹快速优化与分析;基于hp-Radau伪谱法的再入飞行器实时最优制导方法;Radau伪谱方法的收敛性分析。
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