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SoC设计与IP核重用技术

SoC设计与IP核重用技术

定  价:38 元

        

  • 作者:马光胜 冯刚
  • 出版时间:2008/6/1
  • ISBN:9787118046760
  • 出 版 社:国防工业出版社
  • 中图法分类:TN750 
  • 页码:
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:16开
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本书以系统芯片(s0C)设计技术为主线,遵循s。C集成设计方法学,介绍了S。C基础理论知识和最新设计方法。本书深入浅出而又不失严谨性,较为全面地论述国内外具有发展前途的主要S。C设计技术,其中包含作者多年来的科研教学工作成果和心得。本书既为EDA工具的开发者提供理论基础,也为S。C芯片的设计者提供必要的专业知识。 本书共14章,涉及s0C系统设计方法学、系统验证方法、测试方法、IP可复用设计和数字/模拟混合电路设计等理论技术问题,并讨论在ScG设计过程中遇到的一般性问题及解决方法。主要内容包括:S02设计与建模方法、软/硬件协同设计与TLM、IP核的设计、IP重用策略和任务、ScG设计中的验证技术、片上总线、片上网络Ncl2、混合信号SoC的设计、SoC低功耗设计、SoC嵌入式操作系统的分析与设计、核及SOC设计实例、可重构SOC和基于IP重用的SOC测试技术。 每章后面都附有思考题供读者学习。书后的附录供读者在深入进行结构分析和工程设计时参考。 本书可作为高等院校微电子、计算机、通信、自动控制以及相关专业的研究生、高年级本科生教材,同时也可供电子信息行业相关专业工程技术人员参考。
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