测试性（testabmty）是使系统和设备的监控、测试与诊断简便而且迅速的一种设计特性，与系统维修性、可靠性和可用性密切相关。《系统测试性设计分析与验证》全面介绍了测试性设计分析与验证的有关理论和方法。内容包括：测试性和诊断概念、度量参数和指标、测试性要求和诊断方案、测试点与诊断策略、指标分配和预计以及测试性设计和验证等技术及方法。
《系统测试性设计分析与验证》注意科学性与实用性相结合，既可作为大专院校相关专业的教材、参考书，也可作为从事维修性、测试性及测试与诊断等工作的工程技术和研究人员的参考书。
科学技术的进步，特别是计算机技术和大规模集成电路的广泛应用，在改善和提高系统、武器装备性能的同时，也大大增加了系统的复杂性。这势必带来测试时间长、故障诊断困难和使用保障费用高等问题，从而引起了人们的高度重视。研究人员展开了大量的系统测试和诊断问题的研究，要求在设计研制过程中使系统具有自检测和为诊断提供方便的设计特性，即测试性。20世纪80年代以来，测试性和诊断技术在国外得到了迅速发展，出现了大量的文章和研究报告，颁布了一系列军用标准，并贯彻到武器系统的研制中，取得了明显效益。测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性并行发展的学科分支。
测试性是系统和设备的一种便于测试和诊断的重要设计特性，对现代武器装备及各种复杂系统特别是对电子系统和设备的维修性、可靠性和可用性有很大影响。具有良好测试性的系统和设备，可以及时、快速地检测与隔离故障，提高执行任务的可靠性与安全性，缩短故障检测与隔离时间，进而减少维修时间，提高系统可用性，降低系统使用保障费用。
测试性研究是一门新兴的学科，我国在这方面的研究起步较晚。近些年来，有关部门已经开展了不少的研究工作，颁布了测试性军用标准，在新型号研制中提出了测试性要求，开展了有关设计工作。但总的来说，我国还是处于测试性技术发展的初级阶段，测试性知识尚不普及，教学上缺少教材，工程应用上缺少设计指南，实践经验也不多。编写本书的出发点是为测试性教学和工程应用方面提供参考资料，希望能在促进我国测试性和诊断学科发展方面做些有益的工作。
第1章 绪 论
1.1 故障、诊断与测试性的基本概念
1.1.1 故障及其后果
1.1.2 故障诊断
1.1.3 测试性和机内测试
1.1.4 综合诊断
1.2 测试性及诊断技术的发展
1.2.1 由外部测试到机内测试
1.2.2 测试性成为一门独立的学科
1.2.3 综合诊断、人工智能及cAD的应用
1.2.4 国内测试性发展现状
1.3 测试性／BIT对系统的影响
1.3.1 对维修性的影响
1.3.2 对可靠性的影响
1.3.3 对可用性和战备完好性的影响
1.3.4 对寿命周期费用的影响
1.3.5 测试性／BIT影响分析实例
1.4 常用测试性与诊断术语
习 题
第2章 测试性和诊断参数
2.1 概述
2.2 参数定义及说明
2.2.1 故障检测率
2.2.2 关键故障检测率
2.2.3 故障隔离率
2.2.4 虚警率
2.2.5 故障检测时间
2.2.6 故障隔离时间
2.2.7 系统的故障检测率和隔离率
2.2.8 不能复现率
2.2.9 台检可工作率
2.2.10 重测合格率
2.2.11 误拆率
2.2.12 BIT／ETE可靠性
2.2.13 BIT／ETE维修性
2.2.14 BIT／ETE平均有效运行时间
2.2.15 虚警与(2ND及RTOK的关系
习题
第3章 测试性设计与管理工作概述
3.1 测试性工作项目及说明
3.1.1 测试性工作项目
3.1.2 测试性工作项目说明
3.1.3 测试性与其他专业工程的接口
3.2 系统各研制阶段的测试性工作
3.2.1 要求和指标论证阶段
3.2.2 方案论证和确认阶段
3.2.3 工程研制阶段
3.2.4 生产阶段和使用阶段
3.3 测试性设计的目标和内容
3.3.1 设计目标
3.3.2 设计内容
3.4 测试性设计工作流程
3.4.1 各研制阶段测试性工作流程
3.4.2 与系统功能和特性设计并行的测试性设计流程
3.4.3 多级测试性设计流程
3.4.4 UUT测试性与诊断设计流程
3.5 测试性设计工作的评价与度量
3.5.1 测试性设计分析报告
3.5.2 测试性与诊断有效性评价
3.5.3 产品对使用要求的符合性评价
习 题
第4章 测试性与诊断要求
4.1 概述
4.2 确定测试性与诊断要求依据分析
4.2.1 任务要求分析
4.2.2 系统构成特性分析
4.2.3 使用和保障要求分析
4.2.4 可利用新技术分析
4.3 测试性与诊断要求的内容
4.3.1 嵌入式诊断要求
4.3.2 外部诊断要求
4.3.3 测试性与诊断定性要求
4.3.4 测试性与诊断定量要求
4.4 系统与产品的测试性要求
4.4.1 系统测试性要求
4.4.2 产品测试性要求
4.5 确定测试性指标的程序和方法
4.5.1 确定测试性要求的程序
4.5.2 测试性参数的选择
4.5.3 测试性与可靠性、维修性之间的权衡分析
4.5.4 用类比法确定测试性指标
4.5.5 初定指标的分析检验
4.6 诊断指示正确性和BIT影响分析
4.6.1 BIT对可靠性影响分析
4.6.2 BIT对维修性影响分析
4.6.3 诊断指示正确性分析
4.7 测试性／诊断规范示例
4.7.1 初步系统测试性规范
4.7.2 系统测试性规范
4.7.3 CI测试性研制规范
习 题
第5章 故障诊断方案
5.1 诊断方案的制定程序
5.2 候选诊断方案
5.2.1 确定诊断方案的依据
5.2.2 诊断方案组成要素
5.2.3 候选诊断方案的确定
5.3 最佳诊断方案的选择
5.4 权衡分析
5.4.1 定性权衡分析
5.4.2 定量权衡分析
5.5 费用分析
5.5.1 故障诊断子系统费用模型
5.5.2 BIT寿命周期费用增量模型
5.5.3 简单费用分析举例
习 题
第6章 测试性与诊断要求分配
6.1 概述
6.1.1 测试性分配的指标
6.1.2 进行测试性分配工作的时间
6.1.3 测试性分配工作的输入和输出
6.1.4 测试性分配的模型和要求
6.2 等值分配法和经验分配法
6.2.1 等值分配法
6.2.2 经验分配法
6.3 按系统组成单元的故障率分配法
6.4 加权分配法
6.5 综合加权分配法
6.5.1 测试性分配模型和工作程序
6.5.2 综合主要影响因素的加权分配方法
6.5.3 只考虑复杂度时的分配方法
6.5.4 只考虑重要度时的分配方法
6.6 有部分老产品时的分配方法
6.7 优化分配方法
6.7.1 优化分配的数学模型
6.7.2 解法介绍
6.7.3 算法及步骤
6.7.4 目标函数和约束函数的选择
6.7.5 应用举例
习题
第7章 固有测试性设计与评价
7.1 固有测试性设计
7.1.1 划 分
7.1.2 功能和结构设计
7.1.3 初始化
7.1.4 测试控制
7.1.5 测试观测
7.1.6 元器件选择
7.1.7 其他
7.2 测试性设计准则
7.2.1 电子功能结构设计
7.2.2 电子功能划分
7.2.3 测试控制
……
第8章 测试点与诊断策略
第9章 测试性／BIT设计技术
第10章 BIT虚警问题及降低虚警率方法
第11章 系统测试性与诊断的外部接口
第12章 测试性预计
第13章 测试性验证与评价
附录
常用英文缩略语
参考文献
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